0512-65681381
產(chǎn)品簡介
三豐SV-3200S4粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)? 配備高可見度7.5 英寸TFT LCD 屏幕。彩色圖標(biāo)顯示、觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡單，讀取容易。? 輕松定位使用控制器內(nèi)置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內(nèi)側(cè)的測量，需要對微小測頭進(jìn)行微調(diào)。利用手動手柄，實現(xiàn)輕松微調(diào)。
產(chǎn)品分類
三豐SV-3200S4粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)
1.SV-C3200S4粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)的系統(tǒng)：
檢出器測力：0.75 mN
型號 | 主機(jī)規(guī)格 | ||
X1 軸測量范圍 | 垂直移動 | 花崗巖基座尺寸 | |
SV-C3200S4 | 100 mm | 300 mm | 600×450 mm |
1-1.系統(tǒng)圖
1-2.數(shù)據(jù)處理部
分析軟件 |
| FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS |
2.的主機(jī)規(guī)格：
2-1.測量表面粗糙度時
適用標(biāo)準(zhǔn)：JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
評價輪廓：基本曲線／粗糙度曲線／包絡(luò)殘余線／過濾波形曲線／帶通波曲線／波紋度曲線／滾環(huán)波紋曲線／
粗糙度motif／波紋度motif／DIN4776
帶專業(yè)控制器的高精度日本三豐高性能、袖珍型表面粗糙度測量儀，操作簡單，顯示一目了然。
Surftest (表面粗糙度測量儀) SJ-500, SV-2100 178 系列 — 帶有控制 / 裝置型表面粗糙度測量儀
帶控制器的高精度，高性能， 袖珍型表面粗糙度測量儀，操作簡 單，顯示一目了然。
●配有7.5英寸彩色TFT液晶屏幕、大號彩色 圖標(biāo)與觸控式面板控制，該顯示裝置操 作簡單，讀取容易。
●控制部的內(nèi)置操縱桿使得定位快捷簡 便。測量小孔內(nèi)側(cè)時可使用手動旋鈕對 細(xì)小觸針的位置進(jìn)行微調(diào)。
●表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。 利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS/ANSI/ VDA粗糙度標(biāo)準(zhǔn)計算繪圖指令符號
三豐Mitutoyo表面粗糙度輪廓儀SV-2100M4 特點：
• 配備高可見度7.5 英寸TFT LCD 屏幕。彩色圖標(biāo)顯示、觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡單，讀取容易。
• 輕松定位使用控制器內(nèi)置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內(nèi)側(cè)的測量，需要對微小測頭進(jìn)行微調(diào)。利用手動手柄，實現(xiàn)輕松微調(diào)。
• 表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標(biāo)準(zhǔn)的繪圖指令符號進(jìn)行輸入。以往非常麻煩的測量條件設(shè)置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。
評估能力：
適用標(biāo)準(zhǔn):
JIS 82, JIS 94, JIS 01, ISO, ANSI, VDA
評估輪廓:
P (原始輪廓), R (表面粗糙度曲線), DIN4776, 粗糙度曲線motif
評價參數(shù):
Ra, Ry, Rz, Rt, Rp, Rq, Rv, Sm, S, Pc, R3z, mr (c), Rpk, Rvk,δc, Rk, Mr1, Mr2,
Lo, Ppi, R, AR, Rx, A1, A2, Vo, HSC, mr,SK, Ku, Δa, Δq, Wte, Wx, W, AW (可定制)
Rz1max (ISO),Rmax (VDA, ANSI)
分析圖表: ADC、BAC、功率譜圖
評價曲線 斷面曲線、粗糙度曲線、DF曲線、波紋曲線表面粗糙度MOTIF、波形MOTIF線
解析圖表 負(fù)荷曲線、振幅分布曲線
曲線補(bǔ)償 拋物線、雙曲線、圓錐、圓、二次曲線、傾斜補(bǔ)償、無補(bǔ)償
濾波類型 2CR, PC75, 高斯
截止波長 lc:0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm
ls: 0.25,0.8,2.5, 8, 25,80,250μm 無濾波器
lf:0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm 無濾波器
取樣長度: 0.025,0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm;
三豐Mitutoyo表面粗糙度輪廓儀SV-2100M4技術(shù)資料：
| 型號 | SJ-500 | SV-2100M4*1 | SV-2100S4*1 | SV-2100H4*1 | SV-2100W4*1 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)型 | (選件) | 手動操作 | 電動驅(qū)動 | |||
| 測量范圍 | Z1 軸 (檢出器) | 800µm, 80µm, 8µm | ||||
| X 軸 | 50mm | 100mm | ||||
| 直線度 | 0.2µm/50mm*2 | 0.15µm/100mm | ||||
| 分辨力 | X 軸 | 0.05µm | ||||
| Z1 軸 (檢出器) | 0.01µm (800µm), 0.001µm (80µm), 0.0001µm (8µm) | |||||
| Z2 軸 (立柱) | — | — | 1µm | |||
| 驅(qū)動速度 | X 軸 | 0 - 20mm/s 或手動操作 | 0 - 40mm/s 或手動操作 | |||
| Z2 軸 (立柱) | — | 手動 | 0 - 20mm/s 或手動操作 | |||
| 測量速度 | 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0mm/s | |||||
| 上下移動量 | 連接裝置: 30mm | 350mm | 350mm | 550mm | ||
| 評價輪廓 | 原始輪廓, 粗糙度輪廓, 波形輪廓, DF 輪廓, 粗糙度 motif 輪廓, 波形 motif 輪廓 | |||||
| 評價參數(shù) | Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, m(rc), δc, mr, tp, Htp, Lo, lr, Ppi, HSC, ?a, ?q, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa,λq, R, AR, Rx, W, AW, Wx, Wte | |||||
| 輪廓分析 | 階差 (平均, 大, 小), 圓, 角度, 面積, 坐標(biāo)值邊緣, 傾斜角 | |||||
| 分析圖表 | 負(fù)荷曲線 (BAC), 振幅分布曲線 (ADC), 功率譜圖 | |||||
| 曲線補(bǔ)償 | 拋物線補(bǔ)償, 雙曲線補(bǔ)償, 橢圓補(bǔ)償, 圓補(bǔ)償, 錐面補(bǔ)償, 傾斜補(bǔ)償 (曲面/任意) | |||||
| 濾波 | 2CR75, PC75, 高斯魯棒樣條 | |||||
| 截至波長 | λs | 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80, 250µm, 無濾波 | ||||
| λc | 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80*3 mm, 無濾波 | |||||
| λf | 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80*3 mm, 無濾波 | |||||
| 取樣長度 | ||||||
| LCD規(guī)格 | 7.5" 帶背光的TFT液晶顯示 | |||||
| 內(nèi)置打印機(jī) | 高速熱敏打印機(jī) (紙寬: 58mm) | |||||
| 記錄放大 倍率 | 水平倍率 | 10X - 500,000X, 自動 | ||||
| 垂直倍率 | 0.5X - 10,000X, 自動 | |||||
| 檢出器 | 檢出方式 | 差動電感方式 | ||||
| 觸針 & 測力 | 0.75mN 觸針針尖 (錐): 針尖錐角: 60º, 針尖半徑: 2µm4mN 觸針針尖 (錐): 針尖錐角: 90º, 針尖半徑: 5µm | |||||
| 電源 | 100 - 120V AC ±10%, 50/60Hz | |||||
| 功耗 | 75W | 75W | 145W | |||
| 外形尺寸 (W×D×H) | 主機(jī) | 425×94×160 | 716×450×863 | 766×482×966 | 766×482×1166 | 1166×482×1176 |
| 演算顯示部 | 330×270×94mm | |||||
| 電動裝置 | — | — | 372×245×71.8mm | |||
| 重量 | 主機(jī) | 2.7kg | 140kg | 150kg | 220kg | |
| 演算顯示部 | 330×270×94mm | |||||
| 電動裝置 | — | — | 372×245×71.8mm | |||
*1: 儀器本體的一部分采用天然石材，所以表面會有些花紋的情況。 注: 雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩(wěn)定性是值得信賴的。
*2: 使用可選簡易工作臺時：0.4µm/50mm，使用可選手動柱形工作臺時：0.3µm/50mm。
*3: SJ-500除外。 注: SJ-500的工作臺為可選件。詳情請參見L-15頁
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