點規(guī)尺規(guī)點線表 新品上市

我司專業(yè)制做各類點規(guī)，點線規(guī)，污點規(guī)、尺規(guī)，A4點規(guī)，A4點線規(guī)，三星點線規(guī)，SONY點線規(guī)，面積對比規(guī)，對比卡，菲林尺，黑點規(guī)，方框點規(guī)，硅片檢驗?zāi)０?，菲林片，所以點規(guī)都按公式嚴格計算出來的，采用進口機器輸出。可用二次元檢測，所以點規(guī)都可以來圖制樣?。?！可添加你公司名稱及LOGO。

點規(guī)主要用于主要用于品管部門判定污點、表面劃痕。是用來測量、對比手機外殼、LENS、DISPLAY等部件的點、劃痕的面積、直徑、寬度、長度是否超過基準(zhǔn)。精度高zui小線寬0.01mm，點大小0.1mm。。適用在LCD,PCB板,光電，通信行業(yè)等.

數(shù)據(jù)明細：

直徑：(單位mm)0.05，0.07，0.08，0.10，0.15，0.20，0.25，0.30，0.35，0.40，0.50，0.60，0.70，0.75，0.80，0.90，1.00，1.10，1.20，1.25，1.30，1.50，1.75，2.00，2.25，2.50，2.75，3.00.

線徑：(單位mm)0.05，0.07，0.08，0.10，0.15，0.20，0.25，0.30，0.35，0.40，0.50，0.60，0.70，0.75，0.80，0.90，1.00，1.10，1.20，1.25，1.30，1.50，1.75，2.00，2.25，2.50，2.75，3.00.

面積：(mm2)0.03,0.05,0.08,0.1,0.2,0.3,0.5,0.7,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0.

角度計量，及25%與50%遮蓋對比。較大圖直徑測量。

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